Descrição
Especificação: Resolução de Electrónica Secundária 15.0 nm (em tensão de aceleração de 30KV, distância de trabalho de 8mm)
Ampliação de 20X a 30.000X
Tensão de aceleração 1 a 30KV
Modo de observação Modo de alto vácuo / modo de baixo vácuo (opção *)
Sistema de Detecção de Sinal Electron Secundário / Electron Refletido (* opção)
Cartucho pré-centrado de filamento de tungstênio.
O microscópio eletrônico de varredura (SEM ou MEV) é utilizado para observar a estrutura superficial de uma amostra. Os elétrons secundários são emitidos a partir da amostra e são então o detector de elétrons secundário. O sinal eletrônico secundário é capturado digitalmente.
Processado e portado através de um conector USB para um PC para visualização. O software para PC também controla as configurações de coluna.
O microscópio foi projetado com uma interface intuitiva de software fácil de usar, automático e operações manuais são completamente realizadas através do software. O SEMTRAC tem um estágio manual de 3 eixos que é controlado por três botões que estão localizados no porta amostra do equipamento
Tags (palavras-chave)
mev microscopio •
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